Анализатор размера частиц LS 13 320 XR внесен в реестр СИ

Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR компании Beckman Coulter получил свидетельство о внесении в реестр СИ и может быть поставлен с первичной поверкой. 

Для определения размеров частиц нанометрового диапазона применяется метод регистрации дифференциальной интенсивности рассеяния поляризованного света (PIDS).

• Расширенный диапазон прямых измерений: 10 нм – 3 500 мкм
• Ускоренный контроль качества: автоматическое выявление непригодных результатов
• Оптимизированное ПО упрощает создание методов для стандартизованных измерений
• Метод рекомендован в XIII издании Российской Фармакопеи ОФС.1.2.1.0008.15 "Определение распределения частиц по размеру методом лазерной дифракции света"
• Метод определен стандартом ISO 13320 "Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции.

Дополнительную информацию о приборе можно получить по ссылке, либо обратившись в Реолгрейд сервис, официальный дистрибьютор Beckman Coulter.